فیلترها/جستجو در نتایج    

فیلترها

سال

بانک‌ها




گروه تخصصی








متن کامل


اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1385
  • دوره: 

    16
  • شماره: 

    59 (ویژه نامه فیزیک)
  • صفحات: 

    23-28
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    915
  • دانلود: 

    155
چکیده: 

شیوه و چگونگی ساخت فاز Ti2AIN در این مقاله مورد آزمایش و بررسی قرار گرفته است. لایه های نازک Ti2AIN یکی از اعضای گروه فاز Mn+1AXn (M: فلز واسطه؛ A: عنصر گروه A؛ X: کربن و یا نیتروژن؛ (n=1, 2, 3، با خواص فوق العاده سرامیکی - فلزی می باشد، رسوب گذاری لایه های نازک این نیترید سه تایی به وسیله کند و پاش مغناطیسی dc از یک هدف ترکیبی Ti-Al در فضای مخلوط گازی Al/N2 روی زیر لایه های Ti، Si و glass انجام شد. با استفاده از پراش اشعه X و میکروسکوپ نیروی اتمی AFM، ساختار کریستالی Ti2AIN(004) حاصل شده و در ادامه خصوصیات سطح نمونه های مختلف مورد بررسی قرار گرفت.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 915

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 155 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

DEKOVEN B. | WARD P.R. | WEISS R.E.

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2003
  • دوره: 

    -
  • شماره: 

    46
  • صفحات: 

    158-165
تعامل: 
  • استنادات: 

    1
  • بازدید: 

    133
  • دانلود: 

    0
کلیدواژه: 
چکیده: 

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 133

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 1 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

KONOVALOV V.A. | TERPIY D.N. | KOSTENKO I.G.

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2008
  • دوره: 

    15
  • شماره: 

    1
  • صفحات: 

    144-147
تعامل: 
  • استنادات: 

    1
  • بازدید: 

    141
  • دانلود: 

    0
کلیدواژه: 
چکیده: 

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 141

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 1 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2018
  • دوره: 

    12
  • شماره: 

    4
  • صفحات: 

    309-317
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    180
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

The study focused on the production of zinc oxide (ZnO) thin films as a dielectric material for use in metal– insulator– semiconductor capacitors. The objective of this study has demonstrated the frequency dependence of conductivity and capacity. Zinc oxide (ZnO) was thin films deposited by a silicon wavelength SPUTTERING\MAGNETRON cathode SPUTTERING. The capacitive properties of ZnO zinc oxide were studied at room temperature. The frequency dependence of the conductivity, capacitance and the measured current– voltage (I– V) characteristics of ZnO zinc oxide thin films were studied in the frequency range from 5 kHz to 13 MHz. It is shown that the conductivity is total. Indeed, the measurement of the conductivity in alternating regime obeys the Arrhenius equation. In addition, the measured I– V characteristics of the structures studied at 10 kHz and 10 MHz clearly revealed areas of accumulation, depletion and inversion in the plots. It has been observed that AC conductivity and capacity in the ZnO thin films (ZnO) are frequency dependent. This dependence indicates that the conduction is thermally activated and maintains the correlated barrier of the charge carrier on the localized states as a function of the experimental data. The FBAR (expand) devices with the ZnO films exhibited a pronounced resonance peak centered at 537 MHz with a k2 coupling coefficient of 7%. It found therefore that the impedance matching of the FBAR could be easily achieved simply by controlling the resonance the resonator.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 180

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1399
  • دوره: 

    8
  • شماره: 

    4
  • صفحات: 

    29-42
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    630
  • دانلود: 

    170
چکیده: 

در این پژوهش متراکم سازی نانو پودر منیزیای خالص با میانگین اندازه ذرات در حدود 100 نانومتر توسط زینتر قوس پلاسما با فشار اعمالی 80 مگاپاسکال و محدوده ی دمایی ℃ 1000 تا ℃ 1400 و نرخ گرمایش 50 درجه سانتیگراد بر دقیقه در زمان 20 دقیقه مورد بررسی قرار گرفت. دانسیته نمونهها با افزایش دمای زینترینگ تا دمای ℃ 1200 به طور آهسته افزایش یافت و بعد از آن با افت دانسیته و افزایش رشد دانه ها همراه بود. رشد دانهها در طی فرایند زینترینگ با تئوری کلاسیک رشد دانه ها تحلیل شد. نتایج بررسی نرخ تراکم نسبت به دما نشان داد بیشترین افزایش دانسیته در دمای ℃ 1100 اتفاق افتاده است. انرژی فعال سازی رشد دانه به دست آمده برابر با 24/452 کیلوژول بر مول به دست آمد. بیشترین میزان عبور امواج مادون قرمز در طول موج 6/5 میکرومتر برای نمونه ی زینتر شده در دمای ℃ 1200 به مدت 20 دقیقه به میزان 67 درصد به دست آمد.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 630

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 170 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسنده: 

MORADIAN ROSTAM | Jalilian Zahra

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2015
  • دوره: 

    1
تعامل: 
  • بازدید: 

    162
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

IN THIS LETTER WE REPORT MORPHOLOGICAL INVESTIGATION OF GOLD NANORODS/CU3N BILAYER THIN FILMS. GOLD NANORODS SHOW LOCALIZED SURFACE PLASMON RESONANCE AT TWO WAVELENGTH ACCORDING TO THEIR TWO PRINCIPAL PLASMON ABSORPTION BANDS RELATED TO THEIR LONG AND SHORT SYMMETRY AXIS. A WEAK TRANSVERSE PLASMON RESONANCE AT 430 NM DUE TOM SURFACE PLASMON OSCILLATION ALONG THE SHORT AXIS OF THE GOLD NANOROD, AND A WIDE LONGITUDINAL PLASMON RESONANCE AT 800 NM DUE TO IT OSCILLATION ALONG THE LONG AXIS. THE SURFACES OF THIN FILMS WERE PERFORMED BY FIELD EMISSION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE. THE MORPHOLOGICAL PARAMETER WERE STUDIED BY GWYDDION SOFTWARE. THE GOLD NANOROD ABSORPTION AT PLASMONIC WAVELENGTH INCREASE WITH INCREASING IN VALUE OF SURFACE ROUGHNESS.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 162

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
نویسندگان: 

NOSAKA T. | YOSHITAKE M. | OKAMOTO A.

نشریه: 

VIRTUAL

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    621
  • دوره: 

    1
  • شماره: 

    1
  • صفحات: 

    169-170
تعامل: 
  • استنادات: 

    1
  • بازدید: 

    172
  • دانلود: 

    0
کلیدواژه: 
چکیده: 

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 172

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 1 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2015
  • دوره: 

    9
  • شماره: 

    4
  • صفحات: 

    285-290
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    258
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

Physical properties of transparent and conducting indium tin oxide (ITO) thin films grown by radiofrequency (RF) MAGNETRON SPUTTERING are studied systematically by changing deposition time. The X-ray diffraction (XRD) data indicate polycrystalline thin films with grain orientations predominantly along the (2 2 2) and (4 0 0) directions. From atomic force microscopy (AFM) it is found that by increasing the deposition time, the roughness of the film increases. Scanning electron microscopy (SEM) images show a network of a high-porosity interconnected nanoparticles, which approximately have a pore size ranging between 20 and 30 nm. Optical measurements suggest an average transmission of 80 % for the ITO films. Sheet resistances are investigated using four-point probes, which imply that by increasing the film thickness the resistivities of the films decrease to 2.43 × 10-5  W cm.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 258

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

BORAH S.M. | BAILUNG H. | CHUTIA J.

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2010
  • دوره: 

    3
  • شماره: 

    2
  • صفحات: 

    74-80
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    678
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

The transition metal nitrides like titanium nitride exhibit very interesting color variation properties depending on the different plasma deposition conditions using cylindrical MAGNETRON SPUTTERING method. It is found in this deposition study that nitrogen partial pressure in the reactive gas discharge environment plays a significant role on the color variation of the film coatings on bell-metal which is commercially used for decorative as well as for a variety of industrial applications. UV-visible spectrophotometer spectra show that good film coatings has been deposited at argon: nitrogen gas partial pressure of 1: 1. Magnetic field and the deposition time also play an important role in the color variation of the deposited titanium nitride film.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 678

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2016
  • دوره: 

    4
  • شماره: 

    4
  • صفحات: 

    37-45
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    253
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

In industrial applications, most materials are exposed to wear and friction because multiple conditions are used. However, the tribological properties of these materials can be improved with different techniques. One such technique that improves the frictional property of a surface is the use of self-lubricating coatings. In this study, multicomponent coatings of nominal composition Cu-Ni3Al-MoS2 have been sputter from the target using the best SPUTTERING condition to get a good morphology and microstructure of the coating. The morphology and micro structure of the coatings were characterized by X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM) and energy depressive spectroscopy (EDS). The measured micro hardness of this coating was 380 HV under a load of 25 g. Tribological properties of Cu-Ni3Al-MoS2 coatings were investigated using ball-on-disk (BOD) tribometer at room temperature. These composite coatings showed a good morphology and adhesion of the coating to the substrate. Also, it had acceptable friction coefficient and higher wear resistance due to its hard matrix containing Cu-Ni3Al and MoS2 Nano particles.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 253

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
litScript
telegram sharing button
whatsapp sharing button
linkedin sharing button
twitter sharing button
email sharing button
email sharing button
email sharing button
sharethis sharing button